Sisteme de inspecţie cu raze X pentru componente electronice
NIKON XT H 160 este un echipament pentru tomografii computerizate (CT) ce folosește tehnologia razelor X pentru a penetra o gamă largă de materiale.
Acesta poate atinge o putere maximă de 160kV, fiind optimizat pentru a efectua tomografii computerizate cu o viteză ridicată și cu o claritate superioară a imaginilor, datorită detectorului de tip „flat panel”.
NIKON XT H 225 oferă o sursă puternică de raze X, micro-focus, un volum mare de control și o rezoluție înaltă a imaginilor. Acoperă o gamă largă de aplicații, inclusiv inspecția pieselor mici turnate, piese din plastic și mecanisme complexe, dar și material de cercetare sau specimene naturale.
NIKON MCT 225 folosește tehnologia cu raze X pentru a penetra materialul pieselor de măsurat și a determina geometria și dimensiunile interne și externe ale acestora.
Caracteristici:
- precizie superioară datorită tehnologiei micro-focus;
- detectează particule până la dimensiuni de 2 μm;
- detectează cu ușurință geometrii complexe;
- puterea maximă a razei X 225 kV;
- imaginile obținute sunt clare, permițând un zoom maxim de 150X;
- dimensiunile maxime ale piesei de măsurat: 250 x 250 x 450
- grad de penetrare: în plastic 170 mm, în aluminiu 75 mm, în oțel 15mm.
VG Studio Max – este un software high-end folosit pentru vizualizarea și analizarea datelor colectate de CT, opțional fiind disponibile mai multe module de tip add-on, printre care se numără: „Măsurare în coordonate”, „Comparare nominal / actual”, „Analiza porozității”, „Grosimea pereților reperului”, „Analiza fibrelor materialului” și „Importarea modelului CAD”.
NIKON XT V 130C / XT V 160 – sisteme de inspecție cu raze X pentru componente electronice
Sistemele de inspecție cu raze X dedicate componentelor electronice au fost special concepute pentru o inspecție flexibilă și detaliată.
